Käyttökohteet

Mittaus- ja koestustekniikka

Mikroskooppeihin ja kameroihin

Luottamus on hyvä asia. Tarkistus vieläkin parempi. Tätä periaatetta voidaan ongelmitta soveltaa kaikkeen puolijohteiden ja piirilevyjen valmistukseen. Kattavat mitta- ja testausvaiheet – optiset, sähköiset tai röntgensätein toteutetut – takaavat huippulaadun jokaisessa yksittäisessä työvaiheessa. Tällöin on kyse jopa nanometrien tarkkuudesta.

Mahtaako olla luonnollisempaa ratkaisua, kuin kääntyä myös tässä yhteydessä INAn puoleen, tarkkaan ottaen neulalaakeriemme puoleen? Kompaktia rakennetta ja erittäin tarkkaa.